Зайцев Д. М., Приступа В. В.

Анотація

Визначення та порівняння елементного складу мікрочасток різноманітного походження зазвичай є одним із обов’язкових дослідницьких етапів у багатьох напрямах судової експертизи матеріалів, речовин та виробів. Із огляду на незначну кількість речовини в мікрооб’єктах та необхідність їх принаймні часткового збереження для подальших досліджень застосування для цієї мети широко поширених методів атомної емісійної, абсорбційної, рентгенофлуоресцентної спектроскопії часто виявляється неефективним або недоцільним. Вивчення досвіду фізико-хімічних лабораторій провідних світових науково-дослідних установ судової експертизи засвідчує, що оптимальним способом дослідження мікрооб’єктів є скануюча електронна мікроскопія з рентгенофлуоресцентним мікроаналізом (СЕМ-ЕДС). Розглянуто можливості застосування СЕМ-ЕДС в експертному дослідження мікрооб’єктів на низці практичних прикладів (продукти пострілу, тонери пристроїв для друку, неорганічні люмінофори, вставки в ювелірних виробах). Наведені методичні підходи можуть бути адаптовані для дослідження елементного складу практично будь-яких мікрочасток, що містять неорганічні компоненти.

Ключові слова: электронный микроскоп, СЕМ-ЕДС, микрообъекты.